// Feldtests für Mikrowechselrichter

// Definition und Realisierung von Feldtests für modulnahe Photovoltaik-Leistungskomponenten

Modulnahe und modulintegrierte Leistungskomponenten wie Moduloptimierer oder Modulwechselrichter (Mikroinverter) spielen eine zunehmend größere Rolle im Photovoltaik(PV)-Markt. Sie werden insbesondere als ertragsverbessernde Lösung für Anlagen beworben, die unter partieller Beschattung leiden. Weitere Argumente sind erhöhte Anlagensicherheit durch Abschaltbarkeit der einzelnen Module z. B. im Brandfall, mehr Flexibilität und Auslegungsoptionen und ein vereinfachtes Design einer PV-Anlage für den Installateur sowie die Überwachungsmöglichkeit und Verfügbarkeit von Performancedaten auf Modulebene für den Anlagenbetreiber. Allerdings wird von den modulnahen Elektronikkomponenten im Vergleich zu herkömmlichen Strangwechselrichtern eine höhere Zuverlässigkeit und längere Lebensdauer erwartet, vergleichbar mit der von PV-Modulen. Bei den in Modulnähe auftretenden höheren Betriebstemperaturen stellt das eine anspruchsvolle Herausforderung dar.

Zur realitätsnahen, zeit- und strahlungsaufgelösten Charakterisierung der DC- und AC-Performance derartiger kommerzieller Leistungskomponenten wurde auf dem Solar-Testfeld Widderstall des ZSW eine Testplattform installiert, auf der die zu prüfenden Modulelektroniken (Device under Test, DUT) im direkten Vergleich zu einem Referenzsystem mit Strangwechselrichter untersucht werden können. Dabei können verschiedene Verschattungsmodi realisiert werden, wobei jeweils DUT und Referenzsystem identisch verschattet werden. Um systembedingte Unterschiede der Testaufbauten und den Bias der Messkomponenten zu reduzieren und damit die Messgenauigkeit zu verbessern, können dabei sowohl das DUT- und das Referenzmesssystem als auch die PV-Module periodisch alterniert werden.

Ansprechpartner

Peter Lechner
+49 711 78 70-254
Modulnahe Elektronik im Feldtest.
Gleichförmige Beschattung des DUT- und des Referenzsystems mit Giebelschablonen.