// UV-VIS-NIR Spektroskopie

Das UV-VIS-NIR Spektroskop des ZSW wird für die Messung von Transmissions- bzw. Reflexionsspektren im Bereich von maximal 175 - 3300 nm eingesetzt. Aus diesen Daten lassen sich mithilfe von Modellen unterschiedlichste Materialparameter berechnen, welche unter anderem für die Qualitätskontrolle von dünnen Schichten verwendet werden. Diese sind typischerweise auf einem Substrat aufgebracht und haben eine Größe von ca. 20 x 20 mm² bis 100 x 100 mm². Flüssigkeiten können in Küvetten gemessen werden.

Messungen der Transmission und/oder der Reflexion bieten wir als Dienstleistung an, selbstverständlich auch für Unternehmen außerhalb der Photovoltaik.

Anwendungsgebiete

  • Schichtdickenbestimmung von dünnen (0,1 µm - einige µm), transparenten Schichten
  • Bestimmung des Absorptionskoeffizienten von Lösungen oder Feststoffen wie z. B. Glas, Polymeren, etc.
  • Bestimmung optischer Konstanten (Brechungsindex, Absorptionsindex, Reflektanz)
  • Bestimmung von Farbtönen/Trübung/UV-Widerstand von Filtern, Farbschichten, Folien, Spiegeln, Sonnencremes, etc.
  • Wein- und Bieranalyse

Ausstattung

  • UV-VIS-NIR Spektrometer Lambda 900 von Perkin-Elmer (175 - 3300 nm)
  • Ulbrichtkugel PELA-1000 von Perkin-Elmer für stark streuende Proben (250 - 2500 nm)
  • Reflexionszusatz für spiegelnde Proben (250 - 2500 nm)

Ansprechpartner

Dr. Oliver Kiowski
+49 (0)711 78 70-266
Bestimmung der optischen Konstanten (n,k) und der Dicke von rf gesputterten ZnO Schichten mittels dem UV-VIS-NIR Spektrometer "Lambda 900".
(a) Transmissionsmessung und Fit von 2 Schichten unbekannter Dicke.
(b) Reflexionsmessung und Fit von denselben Schichten
(c) Aus (a) und (b) bestimmter Brechungs- und Absoptionsindex.