// Time-of-Flight Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS)

Die Flugzeitmassenspektrometrie sekundärer Ionen ist eine Analysemethode, die lateral aufgelöste Tiefenprofile ermöglicht. Mit unserem Gerät TOF.SIMS 5 der Fa. IONTOF können alle Elemente des Periodensystems detektiert werden.

  • Erfassen von Spurenelementen bis zu einer Konzentration von wenigen ppm
  • Massenauflösung von 12.000, was eine Unterscheidung von O2 zu S ermöglicht
  • 3D-Tiefenprofilierung im Mikrometerbereich mit einer maximalen lateralen Auflösung von 200 nm (Matrixelemente)
  • Quantifizierung der Tiefenprofile über Referenzproben
  • Detektion ganzer organischer Moleküle oder ihrer Fraktionen, Massen bis 10.000 u
  • Messung isolierender Materialien über Ladungskompensation
  • Messung mobiler Ionen durch gekühlten Probenhalter und sanfte Sputterquellen
  • Probenhandling von luft- oder wasserempfindlichen Proben
Time-of-Flight Sekundärionen-Massenspektrometrie Strukturierungslinie
Bild einer P1-Strukturierungslinie.
blau: Molybdän; rot und grün Natrium und Silizium des freigelegten Glases.

Ansprechpartner

Dr. rer nat. Wolfram Hempel
+49 (0)711 7870-264
Time-of-Flight Sekundärionen-Massenspektrometrie Innenansicht
ToF-SIMS Innenansicht
ZSW-Mitarbeiter am ToF-SIMS-Gerät
ZSW-Mitarbeiter am ToF-SIMS-Gerät

Diese Website verwendet Cookies und Drittinhalte

Auf unserer Website verwenden wir Cookies, die für die Darstellung der Website zwingend erforderlich sind. Mit Klick auf „Auswahl akzeptieren“ werden nur diese Cookies gesetzt. Andere Cookies und Inhalte von Drittanbietern (z.B. YouTube Videos oder Google Maps Karten), werden nur mit Ihrer Zustimmung durch Auswahl oder Klick auf „Alles akzeptieren“ gesetzt. Weitere Einzelheiten erfahren Sie in unserer Datenschutzerklärung, in der Sie Ihre Einwilligung jederzeit widerrufen können.